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阻抗分析仪

new  阻抗分析仪

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“true value”
测量真正的特性。

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▲ za57630

ce

 

从电子零件、半导体器件到材料的特性评价,应对多样的阻抗测量需求    

 

 
基本精度
频率范围
阻抗范围
测量 ac 信号级别
 
dc 偏置
 
测量时间
测量参数
 
±0.08%
10 µhz~36 mhz
10 µω~100 gω (模式: impd-ext)
0.01 mvrms~3 vrms
0.1 µarms~60 marms
−5 v ~ 5 v/−40 v ~ 40 v (1 khz以上)
100 ma ~ 100 ma
0.5 ms/point
z, r, x, y, g, b, ls, lp, cs, cp, rs, rp, θz, θy, d, dε, dµ,
q, v, i, εs, εs’, εs”,µs, µs’, µs”, frequency

 

快速测量  业界最快 0.5 ms/point

实现了业界最快的0.5ms/point。
缩短生产线的节拍时间,提高测量作业的效率。
此外,通过增加设定的测量时间,使测量结果平均化,减轻噪声的影响。可视需要选择最合适的测量时间。

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4种测量模式  应对广泛的dut
impd-3t
   标准测量模式

本模式可以在广泛的频率范围内进行高精度测量。可使用测试线及测试夹具,应对各种形状的试样。

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impd-2t
   高频测量模式

本模式可以在 10mhz 以上的高频下进行稳定的测量。使用 n 型连接器进行 2 端子测量,即便配线长,也可以进行稳定的测量。

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impd-ext
  外部扩展测量模式

本模式为外部连接放大器或分流电阻等物进行测量。
可以通过施加高压信号或检测微小电压 / 电流进行单独使用本仪器无法应对的测量。

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g-ph
   增益/相位测量模式

本模式可以测量滤波器、放大器等的传输特性。向被测电路施加扫描信号,高精度地测量其频率响应(增益、相位)。

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正面面板测量端子
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   > 使用说明书(英文)
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